半导体及相关领域测试服务

 
        凭借专业技术团队及高端分析设备,在集成电路、元器件、PCBA、光伏、LED、LCD液晶领域提供失效、材料、无损、微纳分析,可靠性测试,逆向工程,工艺分析等服务,并为各领域新材料研发提供专业材料分析平台。 我们致力成为半导体、电子、新材料领域分析的领跑者,加速研发过程、提升产品效能,为您的产品保驾护航。

材料分析测试服务:

分类:

1. 切片+显微观察(光学显微镜OM、扫描电镜SEM、透射电镜TEM)

2. 材料力学/电学/热学/化学性能分析

3. 表面微区分析

4. 异物/污染分析

5. 成分分析

6. 材料老化及可靠性分析

 

表面材料分析手段 :

1. AES 俄歇电子能谱仪应用

2. AFM 原子力显微镜应用

3. EELS 电子能量损失分析仪应用

4. FT-IR 傅立叶红外显微镜应用

5. SEM/EDS 扫描电子显微镜/X射线能谱仪应用

6. SIMS 二次离子能谱仪(特殊定点/非定点制样、元素分析)

7. TEM 透射电镜(定点/非定点制样及上机观察)

8. TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱应用

9. XPS X射线光电子能谱仪应用



风雨10年路,我们只专注于检测认证的技术服务; 只为让产品设计再安全一点,工程质量更放心一点,让您更省心一点; 给我们一个合作的机会,一定会给您带来意外的惊喜,这并不会花费您太多时间; 立即致电 156-2583-3331(24小时)或者通过以下方式联系。

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