电子元器件失效分析与检测

时间 :2020-12-14 点击 : TAG标签 :电子元器件检测(1)

 

电子元器件失效分析,电子元器件检测


       电子元器件失效分析与检测

失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用,在产品的研发、生产、使用中都需要引入失效分析工作。CPST失效分析实验室作为CPST一站式服务的重要组成部分,拥有一支经验丰富、技术精湛的服务团队,各种先进的检测、分析仪器,可以为客户提供高效、准确、公正的检测、分析服务。

 

电子元器件检测的意义:

1. 元器件厂: 获得改进产品设计和工艺的依据;

2. 整机厂: 获得索赔、改变元器件供货商、改进电路设计、改进电路板制造工艺、提高测试技术、设计保护电路的依据;

3. 整机用户: 获得改进操作环境和操作规程的依据,提高产品成品率和可靠性,树立企业形象,提高产品竞争力。

失效分析技术的延伸应用:

1. 进货分析的作用: 选择优质的供货渠道,防止假冒伪劣元器件进入整机生产线;

2. 良品分析的作用: 学习先进技术的捷径。

 

电子元器件的工艺适用性评价:

1. 回流敏感度测试依据标准J-STD 020包括温湿度处理以及回流焊;

2. 可焊性测试;

3. 金属层耐溶解性试验;

4. 耐焊接热试验。
 

电子元器件的常规检测:

 

 1. 开封

 17. 引线键合强度

 2. 取晶粒

 18. 芯片粘结强度

 3. 芯片层次去除

 19. 背面研磨

 4. 去金凸块

 20. TEM

 5. 染色

 21. EELS

 6. 高解析度显微拍照

 22. AFM

 7. BGA(PCB)&IC电路提图服务

 23. C-AFM

 8. 扫描电镜检查

 24. SIMS

 9. 高/低阶制成定点横截面切割

 25. TOF-SIM

 10. EMMILC 液晶热点侦测

 26. AES

 11. OBIRCH 应用

 27. XPS

 12. 静电放电(ESD)测试

 28. XRD

 13. 探针应用

 29. STEM

 14. LCR应用

 30. FIB-线路修补

 15. I-V曲线量测

 31. X射线透视检查

 16. 激光切割

 32. 超声波扫描检查(C-SAM)





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