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CPST文章内容

电子元器件失效分析与检测

发布于:2019-11-27 10:31 来源:欧冠检测 作者:jacob.Liu 点击:

    失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用,在产品的研发、生产、使用中都需要引入失效分析工作。CPST失效分析实验室作为CPST一站式服务的重要组成部分,拥有一支经验丰富、技术精湛的服务团队,各种先进的检测、分析仪器,可以为客户提供高效、准确、公正的检测、分析服务。
 
    电子元器件检测的意义:
        1. 元器件厂: 获得改进产品设计和工艺的依据;
        2. 整机厂: 获得索赔、改变元器件供货商、改进电路设计、改进电路板制造工艺、提高测试技术、设计保护电路的依据;
        3. 整机用户: 获得改进操作环境和操作规程的依据,提高产品成品率和可靠性,树立企业形象,提高产品竞争力。


    失效分析技术的延伸应用:
       1. 进货分析的作用: 选择优质的供货渠道,防止假冒伪劣元器件进入整机生产线;
       2. 良品分析的作用: 学习先进技术的捷径。
 
    电子元器件的工艺适用性评价:
        1. 回流敏感度测试依据标准J-STD 020包括温湿度处理以及回流焊;
        2. 可焊性测试;
        3. 金属层耐溶解性试验;
        4. 耐焊接热试验。
 
电子元器件的常规检测:

 1. 开封  17. 引线键合强度
 2. 取晶粒  18. 芯片粘结强度
 3. 芯片层次去除  19. 背面研磨
 4. 去金凸块  20. TEM
 5. 染色  21. EELS
 6. 高解析度显微拍照  22. AFM
 7. BGA(PCB)&IC电路提图服务  23. C-AFM
 8. 扫描电镜检查  24. SIMS
 9. 高/低阶制成定点横截面切割  25. TOF-SIM
 10. EMMILC 液晶热点侦测  26. AES
 11. OBIRCH 应用  27. XPS
 12. 静电放电(ESD)测试  28. XRD
 13. 探针应用  29. STEM
 14. LCR应用  30. FIB-线路修补
 15. I-V曲线量测  31. X射线透视检查
 16. 激光切割  32. 超声波扫描检查(C-SAM)

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